方块电阻方块电阻的测定
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发布时间：2024-09-24 04:01
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时间：2024-10-12 19:12
为了准确测量方块电阻，首先需要在A边和B边各放置一个电阻远小于导电膜电阻的圆铜棒。确保这些圆铜棒的表面光洁，以实现与导电膜的良好接触。通过测量两个铜棒之间的电阻，即可得到导电薄膜材料的方块电阻值。
当方块电阻值较小（如几个欧姆以下），则需要使用专门的低电阻测试仪器，如毫欧计或微欧仪。测试方法是使用四根光洁的圆铜棒压在导电薄膜上，其中两根（BC）的间距设置为导电薄膜的宽度，其他两根（AB、CD）的距离一般在10-20毫米即可。接通仪器后，显示的阻值即为材料的方块电阻值。这种方法的优点是：（1）能够测量几百毫欧、几十毫欧乃至更小的方块电阻值；（2）采用四端测试，可以避免铜棒与仪器连线的电阻对测量结果的影响；（3）测试精度较高，主要取决于膜宽和铜棒间距的机械精度，而这些尺寸通常较大，因此机械精度容易达到较高水平。
虽然这种方法的精度较高，但在测试较大、形状不规则的导电薄膜材料时会较为繁琐。此时，可以使用专用的四探针探头进行测试。探头由四根探针组成，要求探针头之间的距离相等。当探头压在导电薄膜上时，方阻计能立即显示材料的方块电阻值。这种方法与使用铜棒测试的原理不同，但同样采用四端测试。然而，由于电流场仅在特定区域产生电压（电势），因此灵敏度较低，约为1：4.53。
影响探头法测试方块电阻精度的因素包括：（1）探头边缘到材料边缘的距离应大于探针间距的10倍以上；（2）要求探针头之间的距离相等，否则会产生等比例测试误差；（3）理论上探针头与导电薄膜接触点越小越好，但实际应用中需采用圆形探针头，以避免破坏被测材料。
在实际应用中，应注意以下几个问题：（1）被测导电薄膜材料表面应保持清洁，避免油污或氧化层影响测试稳定性与精度；（2）探头探针若存在油污等杂质，可能会导致测试结果不稳定，此时可以在干净的白纸上滑动探头擦拭；（3）对于蒸发铝膜等薄材料，若铝膜分布不均匀，形成的方块电阻值会显著增加，与通过称重法计算的厚度和方阻值不同。在测试时，需考虑到修正系数。
